紫外線老化箱/紫外線老化試驗(yàn)箱總電荷量變化

紫外線老化箱/紫外線老化試驗(yàn)箱由此看出，對(duì)于未老化的樣品，在加壓過程中，電荷很快即達(dá)到平衡，說明材料內(nèi)部陷阱主要是由淺陷阱構(gòu)成，隨著老化時(shí)間的增加，電荷填充陷阱的過程越來越長(zhǎng)，電荷達(dá)到平衡的時(shí)間也相應(yīng)增加，說明老化過程中產(chǎn)生68 了深陷阱，這與前節(jié)的化學(xué)測(cè)試結(jié)果一致，老化過程中產(chǎn)生的羰基和羥基等氧化產(chǎn)物導(dǎo)致了深陷阱的生成。電荷最后達(dá)到平衡的對(duì)應(yīng)的電荷總量也隨著老化時(shí)間增大而逐漸增大。

值得注意的是，雖然UV老化3周樣品達(dá)到平衡時(shí)總電荷量是的，但達(dá)到平衡所需要的時(shí)間（大約1000 s）卻較UV老化2周（大約2000 s）的樣品要早，這是由于老化后期的陷阱電荷密度的增加中更多的是淺陷阱的貢獻(xiàn)，導(dǎo)致材料的電導(dǎo)率的增加，原先被深陷阱捕獲的載流子重新加入到電荷傳輸?shù)倪^程中。

 紫外線老化箱/紫外線老化試驗(yàn)箱的同樣，從5.8（b）中電荷衰減曲線，進(jìn)一步驗(yàn)證了老化過程中產(chǎn)生了新的陷阱，未老化的樣品電荷總量衰減最快，隨老化時(shí)間增加，電荷衰減速率逐漸減緩，到了老化后期，由于電導(dǎo)率的增加導(dǎo)致了電荷總量的衰減速率較之前略有增加，但仍然比未老化的樣品電荷衰減速率慢。www.zgshfp.com